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场效应管测试仪

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北京励芯泰思特测试技术有限公司

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BC3193半导体分立器件测试系统

测试系统用途及主要测试对象:二极管,三极管,可控硅,场效应管,(IGBT)绝缘栅双极三极管,达林顿矩阵,单结晶体管,光敏二极管,光敏三极管,光电耦合器,固态继电器等,DC/DC模块参数测试仪,MOS测试仪,三极管开关时间测试仪。

 

二极管及整流桥:VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻抗。
  三极管:BVCBO、BVCEO、BVCER、BVCES、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、ICES、IEBO、VCES、VBES、HFE。
  可控硅:IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR。
  场效应管:BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm。
  达林顿管:VCESAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBESAT、BVCEO. IGBT、BVCGR、BVGES、TGES、VCEST、VGETH。
  光电耦合器:VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、CTR、VCESAT。

* 测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。

* 测试原理符合相应的国家标准,国家xx标准和行业标准。
* 采用脉冲法测试功率参数,符合国家xx标准并有效的抑制测试温生。
* 采用Kelvin测试原理,排除线路电阻及接触电压,使大电流的参数测试更准。

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