设备名称: 二坐标测量机
设备型号: sph2010(全新)
产地: AEH
年代: 新
技术状况: 新
数量: 大量
售价: 议
测量范围(mm)X: 200
测量范围(mm)Y: 100
测量范围(mm)Z:
探测系统: 英国RENISHAW系统
分辨率: 0.5μm
示值误差(μm): 1.5+L/100
探测误差(μm):
技术特点：: 1.花岗岩基座及立柱为主机的机械系统提供了超高的稳 定性
2.先进的精密光栅测量系统结合计算机辅助误差修正软 件保证仪器的高精度
3.计算机可编程控制光学照明系统
4.先进的图像处理及多样化的自动寻边采点功能取代 了目视瞄准手工技术的传统测量方式，极大的提 高了工作效率并从根本上xx了人为误差
5.图形化的中文操作界面更易于操作者学习掌握
6.编程及自学习编程功能令同一工件（或同类工件）的批 量（或重复）测量更为轻松。
7.功能强大的通用测量软件可与多种专用软件（包括统计 与质量控制、曲线、齿轮、螺纹等）配合使用以解决普 通的测量问题和各种特殊的测量解决问题。
