设备名称: 二坐标测量机
设备型号: sp2010ct(全新)
产地: AEH
年代: 新
技术状况: 新
数量: 大量
售价: 议
测量范围(mm)X: 200
测量范围(mm)Y: 100
测量范围(mm)Z:
探测系统: 英国RENISHAW系统
分辨率: 0.5μm
示值误差(μm): 1.0+L/100
探测误差(μm):
技术特点：: 稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数据处理软件，使该仪器具有外形尺寸小，整机重量轻，机械系统稳定，安装调试简单，功能强大，操作使用方便，应用领域广泛的优点。
