特性:
・ 交流/直流共用。微电阻测试范围0.1µΩ~2000Ω,测试速度2秒/8通道。
・ 可以与温度循环试验箱一起构成系统,统一管理。
・ 适合于BGA/CSP为代表的高密度封装部件的焊接接合评价和多层基板的导通检查,以及连接器或接插件的接触电阻的多点连续测定。
・ 测试通道,醉倒256通道(32通道/基板、8基板构成)。还有微型的MLR22mini。
主要技术规格:
测定电阻值范围及分辨率 |
交流测定 |
直流测定 |
1)2.000kΩ(分辨率1Ω) 2)200.0Ω(分辨率100mΩ) 3)20.00Ω(分辨率10mΩ) 4)2.000Ω(分辨率1mΩ) 5)200.0mΩ(分辨率100µΩ) 6)20.00mΩ(分辨率10µΩ) |
200.00kΩ 20.000kΩ 2.0000kΩ 200.00Ω 20.000Ω | |
测定频率 |
2kHz | |
测定电压 |
20mV(rms)以下 | |
测定点数 |
32通道/基板(最多256通道) |