技术指标：
分析范围：10%～99.99%
测量时间：自适应 30～200秒
测量精度：±0.1%
测试环境：常温常态
可分析元素：金(Au)，银(Ag)，铂(Pt)，钯(Pd), 铜(Cu)，铑(Rh)，钌(Ru)，锌(Zn)，镍(Ni)，镉(Cd)，铟（Ln）.
X射线源：X射线光管（风冷无辐射）
测量点尺寸：1～2mm
电压：交流220V/50Hz
尺寸：500*500*350 mm（{zd0}处）
重量：40kg
操作系统：Windows2000/XP
镀层测量：
镀层厚度范围<30μm
{zd0}测量层数：5层
测量精度：0.03μm
仪器配置：
X光管
正比计数探测器
高压电源
放大电路
液晶显示屏幕
摄像定位系统
产品特点：
1）仪器xxx高
承诺，本公司各款测金仪价格，{jd1}低于市场上任何一款同类产品的价格。本产品采用先进技术成果，提高了性能，节省了成本。
2）测量元素全面，涵盖贵金属行业补口数据库
能够测量：金Au（包括K金），铂金Pt，白银Ag，钯金Pd，铑Rh，铜Cu，锌Zn，镍Ni，钨W,铟Ln等金属元素。XRF软件针对贵金属企业解决贵金属xx含量分析问题。
3）快速定性定量判断
1～3秒可以对首饰做定性判断，30秒检测出xx结果。{zg}xx度可以达到0.1%，风冷散热循环系统，稳定，重现指标高。
4）率先将先进的摄像定位技术引入珠宝检测领域
该摄像定位系统除让首饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外，还可以将首饰被检测到的xx位置的图片信息，连同计算报告一起打印出来。
5）售后服务遵循仪器仪表国家规定
产品实行国家仪器仪表“三包”,一年保修,三月包换，终生维护,终生免费软件升级。
市场部经理：金承义 手机：+86-13538218521 地址：深圳市宝安区25区华丰商贸城5楼A15
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