供应Agilent4291A/B RF 阻抗/材料分析仪

Agilent HP 4291A/B RF Impedance / Material Analyzer 

4291A/B RF 阻抗/材料分析仪
主要技术指标

4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）

独立选择2个通道的参数

直接读取介电常数、导磁率（选件）

2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）

多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）

扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）

描述

Agilent 4291 RF阻抗/材料分析仪为表面贴装元件和介电/磁性材料的高精度测量提供总体解决方案。Agilent 4291使用的不是反射测量技术，而是直接电流和电压测量技术，从而能在宽阻抗范围进行更xx的阻抗测量。

基本阻抗精度为±0.8%。其高Q值精度可用于分析低损耗元件。内部合成器的扫描频率从1MHz至1.8GHz，具有1mHz的分辨率。1.8m长的无误差电缆把分析仪接到测试台，因而能使测试点离开分析仪，而不会损失精度。先进的校准和误差补偿功能可扣除夹具造成的测量误差，保证对DUT/MUT的高精度和可重复性。

Agilent 4291还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。

Agilent 4291有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Agilent 4291 直接控制恒温箱或园片探测器这类外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。

材料评估

Agilent 4291 能容易地进行全面的材料评估，提高材料评估的质量和效率。Agilent 4291 提供宽频率范围(1MHz至1GHz)介电/磁性材料测量的总体解决方案。