【专利产品】非接触三坐标测量仪 微高度测量仪 金线精度测量仪

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    上海聚亮光学仪器有限公司

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    产品简介

    加工定制
    品牌 WDK
    型号 WDK-2010Z
    类型 水平臂式三坐标测量机
    定位精度 0.001
    外形尺寸 500X800X1200
    适用范围 金线弧高和平行度测量,电子,教育,材料等
    测量方式 非接触测量
    专利 拥有二项专利
    仪器特性 集金相、三坐标测量、微分干涉于一身
    郑重声明:产品 【【专利产品】非接触三坐标测量仪 微高度测量仪 金线精度测量仪】由 上海聚亮光学仪器有限公司 发布,版权归原作者及其所在单位,其原创性以及文中陈述文字和内容未经(企业库qiyeku.cn)证实,请读者仅作参考,并请自行核实相关内容。若本文有侵犯到您的版权, 请你提供相关证明及申请并与我们联系(qiyeku # qq.com)或【在线投诉】,我们审核后将会尽快处理。
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