TEM/HRTEM/EDS/线扫/Mapping测试（JEM 2100F 高分辨透射电镜）

适用领域

广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域

主要功能

TEM形貌观察及HRTEM，SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping

样本检测注意事项

1) 样品量5mg以上，有特殊要求请及时说明

2) 明确标注样品成分

3) 要求缓冲液不具有腐蚀性

4) 对其它可能危害仪器的样品必须事先注明，并告知相关防护措施

测试仪器

仪器名称: 高分辨透射电镜测试(300kv TEM)

仪器型号: Tecnai G2 F30

仪器厂家: FEI

仪器产地: 美国

Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。同时，该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

主要规格及技术指标：

1) 加速电压： 200 kV～300 kV

2) 点分辨率：0.20 nm

3) 线分辨率：0.102 nm

4) 信息限度：0.14 nm

5) TEM放大倍数范围 60 Χ -1000kx

6) 相机长度（mm）80 - 4，500

7)衍射角度 ±12

8) STEM HAADF分辨率：0.19 nm

9) STEM放大倍数范围：150 Χ -230Mx

10) 能谱分辨率：≤ 136 eV

11) 能量过滤器分辨率：≤ 0.9 eV

测试案例：