X荧光光谱分析仪iEDX-150WT

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    班通科技(广东)有限公司

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    产品优势

    1. 镀层检测,最多镀层检测可达5层。

    2. 对于薄镀层分析精准,可以精准的分析小于1uin(0.025um)的镀层,可以准确分析0.2-0.5uin的金层。

    3. 可同时进行选配RoHS检测功能,精准的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。

    4. 可同时进行选配镀液分析功能,一分钟即可分析出液体内金,镍,铜等液体含量,分析精度为0.01ppm,

    5. 可同时进行选配合金成分分析功能。

    6. 开槽式超大可移动全自动样品平台620*525 (长*宽),样品移动距离可达220*220X10mm(长*宽*高) ;专为线路板行业研制。

    7. 激光定位,可以连续自动多点程控测量;

    8. 可以选配多准直器系统,单准直器/6个准直器/7个准直器。

    9. 可检测固体、液体、粉末状态材料;

    10. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;

    11. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析;

    12. 操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果(20-40秒);

    13. 标配德国AmptekSI-Pin 探测器,选配高精度硅漂移SDD探测器,保证测试精度。

    14. 软件支持无标样分析。


     

     

    标配

    选配

    X射线管

    高稳定性X光管,使用寿命长(工作时间>15,000小时)。

    MO (鉬)靶,铍窗口, 光斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

    50kV,1mA,高压和电流设定为应用程序提供好性能。

    高稳定性微焦点X光管,使用寿命(工作时间>15,000小时)。

    MO (鉬)靶,铍窗口, 光斑尺寸50um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

    50kV,1mA,高压和电流设定为应用程序提供好性能。

    平台

    固定平台

    软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载负载量为5公斤,控制程序进行持续性自动测量。

    平台尺寸:620*525mm (长*宽*高)

    样品移动距离:220*220X10 mm(X*Y*Z)

    准直器

    单准直器系统 0.2/0.3MM选1个

    0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7种准直器规格可选,客户可最多选7种准直器尺寸,可定制特殊尺寸准直器。

    探测器

    半导体Si-PIN 探测器,分辨率159eV,

    高分辨率硅漂移SDD探测器,分辨率可达到125eV.

    滤光片

    初级滤光片:Al滤光片,自动切换

    /

    样品定位

    显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

    /

    视频系统

    高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统。

    观察范围:3mm x 3mm。

    放大倍数:40X。

    /

    附件

    含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

    /

    软件

    标配Multi-Ray镀层软件

    1、选配ROHS软件

    2、选配合金软件

    3、选配软件

     检测元素范围

    Al (13) ~ U(92)

    /

    分析样品类型

    液体/固体/粉末

    /

    产品配置及技术指标说

    标配

    选配

    X射线管

    高稳定性X光管,使用寿命长(工作时间>15,000小时)。

    MO (鉬)靶,铍窗口, 光斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

    50kV,1mA,高压和电流设定为应用程序提供好性能。

    高稳定性微焦点X光管,使用寿命(工作时间>15,000小时)。

    MO (鉬)靶,铍窗口, 光斑尺寸50um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

    50kV,1mA,高压和电流设定为应用程序提供好性能。

    平台

    固定平台

    软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载负载量为5公斤,控制程序进行持续性自动测量。

    平台尺寸:620*525mm (长*宽*高)

    样品移动距离:220*220X10 mm(X*Y*Z)

    准直器

    单准直器系统 0.2/0.3MM选1个

    0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7种准直器规格可选,客户可最多选7种准直器尺寸,可定制特殊尺寸准直器。

    探测器

    半导体Si-PIN 探测器,分辨率159eV,

    高分辨率硅漂移SDD探测器,分辨率可达到125eV.

    滤光片

    初级滤光片:Al滤光片,自动切换

    /

    样品定位

    显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

    /

    视频系统

    高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统。

    观察范围:3mm x 3mm。

    放大倍数:40X。

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    附件

    含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

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    软件

    标配Multi-Ray镀层软件

    1、选配ROHS软件

    2、选配合金软件

    3、选配软件

     检测元素范围

    Al (13) ~ U(92)

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    分析样品类型

    液体/固体/粉末

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    郑重声明:产品 【X荧光光谱分析仪iEDX-150WT】由 班通科技(广东)有限公司 发布,版权归原作者及其所在单位,其原创性以及文中陈述文字和内容未经(企业库qiyeku.cn)证实,请读者仅作参考,并请自行核实相关内容。若本文有侵犯到您的版权, 请你提供相关证明及申请并与我们联系(qiyeku # qq.com)或【在线投诉】,我们审核后将会尽快处理。
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