QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡

QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡 技术参数：
内含两个3mm×3mm硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.

作为我们流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的进一步发展，我们现在推出BarPattern-NANO！

QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡易于使用的幻像提供了两个硅芯片，它们垂直对齐并放置在坚固的塑料支架上。
两种3 x 3mm²的芯片都具有数个线和点图案，分别代表线和点的宽度为1至10 µm。

此外，在芯片上还放置了锯齿状边缘（L）和西门子星（放射状星）。
芯片上的不同结构以这种方式布置在芯片上，从而可以通过一次测量在图像/芯片的中心以及外围区域中确定空间分辨率。

芯片上的线型和点型：3 x 3mm²
结构的深度在5和15 µm之间变化。

QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡技术指标
基础材料：    固体塑料（切屑放在空气中的支撑件上-壁厚> 0.3 mm）
直径幻影：    5.2毫米
高度：    19毫米
硅芯片的措施：    3 x 3 x 0.66毫米
芯片上的结构（分辨率）：    分别为1至10 µm。500至50 LP / mm
芯片材质：    硅
图案对比    硅/空气

As a further development of our popular MicroCT-BarPattern-Phantom we now present the BarPattern-NANO!

The easy and convenient to use phantom provides two silicon chips, perpendicularly aligned and placed on a solid plastic support.
Both 3 x 3 mm² chips exhibit several line and point pattern representing lines and points of 1 to 10 µm width.

In addition a slented edge (L) and a Siemens-star (actinomorphic star) are also placed on the chip.
The different structures on the chip are arranged in such a way over the chip, that spatial resolution can be determined in the center as well as in the peripheral regions of the image/chip with a single measurement.

Line- and Pointpattern on the chip: 3 x 3 mm²
The depth of the structures varies within 5 and 15 µm.

Specifications
Base material:    solid plastic (chips placed on support in air -> 0.3 mm wall thickness)
Diameter Phantom:    5.2 mm
Height:    19 mm
measures of silicon chip:    3 x 3 x 0.66 mm
structures on the chip (resolution):    1 to 10 µm, resp. 500 to 50 LP/mm
Material of chip:    silicon
Contrast of pattern    silicon / air