微区膜厚测量仪与反射光度计

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贝耐特光学科技（苏州）有限公司

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产品介绍：

用于微米级表面尺寸光学反射率，薄膜厚度及膜层材料光学参数（n&k）的快速测量。可以在0.1秒钟内同时获取单层薄膜厚度和材料光学参数。该仪器可用于各种环境、如实验室、工厂生产线及野外的实时测量。

关键优势：

小光斑：测量光斑直径从5μm到100μm
测速快：单点测量时间小于0.1秒
精度高：反射率精度0.1%，膜厚精度达0.2nm
波长范围：350nm至1000nm，1000nm至1700nm
小型便捷：重量2.8公斤，USB连接计算机，软件易学好用

应用领域：

光学镀膜：镜片增透膜、高反膜、分光膜测量
医疗器件：内窥镜镜片反射率、内聚对二甲苯保护层、医疗器械表面涂层测量
半导体制造：二氧化硅（SiO2）、氮化硅（Si3N4）、ITO（氧化铟锡）、有机发光层、聚酰亚胺（PI）、光刻胶厚度测量
太阳能电池：氮化硅减反射膜、氧化铝钝化层测量

产品规格：

参数	技术指标
测量内容	反射率，膜层厚度及光学常数（n&k）
光斑尺寸	5μm，10μm，50μm，80μm，100μm
膜厚范围	15nm至100μm，精度为0.2nm
测量时间	单点测量时间小于0.1秒
光谱范围	350nm至1000nm，1000nm至1700nm
样品尺寸	1mm至100mm
仪器重量	2.8公斤
仪器尺寸	29 x 23 x 25cm
数据处理	USB数据传输，配套软件Film_Analyzer
操作系统	Windows10及以上系统
电源	100-240 VAC，50/60Hz，0.4A

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