Innov-X Explore 9000SDD矿石元素分析仪

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    北京吉祥天地科技有限公司

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    一、Innov-X(伊诺斯)公司简介

    美国伊诺斯(Innov-X System)公司位于美国波士顿,美国纽约证券交易所上市企业,是全球xxx的微型X荧光光谱技术研发商,生产的Innov-X OMEGA系列、Alpha系列便携式X射线萤光光谱分析仪占据欧美手提式X荧光分析仪70%的市场份额。
    伊诺斯是全球首家通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光光谱技术分析仪器的生产厂商,同时通过了NATO AQAPI标准。(该标准为北大西洋公约组织对精密武器及其零件供应商的{zg}品质要求)。
    伊诺斯便携式X射线萤光光谱分析仪已经被广泛应用于地质、采矿、金属、土壤、环境、考古、木材、电子、医药、环保、啤酒、电力、石化、玩具、大型工程、锅炉制造、再生资源金属、玻璃的回收、刑事证据鉴定等各种不同领域的日常分析。被联合国国际原子能机构广泛使用的产品,已多次在伊拉克武器核查和伊朗核查中发挥作用。
    伊诺斯便携式X射线萤光光谱分析仪,被联合国原子能机构和联合国环境规划暑确认为xxx检的应对有害元素检测、合金分析、矿石分析、环境分析的产品,目前正服务于伊朗核查和欧美各大海关等重要部门。
    二、Innov-X Explore 9000SDD无与伦比的独特性能
    1. SDD X射线探测器具有惊人的计数率,高达200000,比普通的Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高10倍。
    2. 分辨率大大地提高到了,<155keV.
    3. SDD强大的获取数据能力使仪器分析速度极快。
    4. Au的检测下限LOD高达2ppm, 对贵重金属矿石的如Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd的分析有{jj0}的效果。
    5. 可以测试Mg、Al、Si,具有良好的检测下限。
    6. 元素的检测下限LOD在SDD状态下有极大的提高,普遍提高1~15倍。
    7. 在高含量的矿石分析模式MINING中增加了 BEAM2的功能,可分析Mg, Al, Si, P, S, K, Ca等元素。
    8. 可选配真空选件, 在真空状态下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍
    9. 可选配GIS数据采集手簿TRIMBLE,数据与GPS实现绑,可将仪器测试点的矿化信息通过蓝牙传到TRIMBLE上,再与TRIMBLE上自动产生的经度、纬度、海拔进行连接,实现测试信息与GPS同步处理。
    10. 数据与GPS同步输出,可在每一个测试结果中自动附加GPS信息,这些结果可以被专业的地球物理xxxx自动引用。
    11. GPS可以实现用户自定义。
    12. 选配GIS数据采集手簿TRIMBLE可以很容易实现地图引用下载。,Explorer测试的每一个点皆可以显示在屏幕实际地图中,只要选取屏幕地图中的点就可以查看分析数据与GPS数据,这些数据组可在TRIMBLE中进行所需要的地质矿化分析。
    13.工业级可触摸的显示屏与主机一体化密封设计,可承受野外恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的矿山环境中长时间正常工作。
    三、Innov-X Explore 9000SDD便携式矿石分析仪技术性能
    1. 惊人的检测速度。工作2秒种即可显示样品中的成份。
    2. 超大的功率。40KV,100MA高达4W的大功率X射线管技术使仪器具有更低检测下限。
    3. 可测试的元素扩大到83种,从镁到钚。
    4. 更低的探测器温度。-35℃的超低温工作状态,使仪器具有{zy1}的解析度。
    5. 可承受恶劣的工作环境。耐磨防刮花的超硬塑料外壳、密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的矿山环境中正常工作。
    6. 腰带、枪套、肩带能将仪器牢牢地固定在你的腰部,可在野外活动自如。
    7. {zd1}检测下限提高了.
    8. 更高的检测精度,多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测精度。
    9. 超大的图标显示,菜单式驱动,微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。
    10. 交流电源让你在室内环境中为仪器提供更多的选择。
    11. 可选择的微型打印机可让你实时打印数据。
    12. 电磁干扰被屏蔽,即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。
    13. 仪器具有更强的散热能力、抗震动能力、自动防幅射保险装置。`
    14. 任意形态的样品皆可检测。矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
    15. 一键式按钮设计(用户在测试过程中无需一直压住按钮)。
    16. 无需借助电脑,可在现场随意)旨定,查看,放大相关元素的光谱图。

    四、Innov-X Explorer 9000SDD便携式矿石分析仪分析元素

    可分析从从镁矿(Mg)到钚矿(Pu)之间的所有83种自然矿石。

    矿石分析仪器Innov-X Explorer 9000SDD的分析模式与元素种类
    分析模式 分析元素
    百分比含量Mining Beam1 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Mo, Ag, Sn, Sb, W, Pb, Bi, As, Cd. Optional additions Ta, Nb, U
    百分比含量Mining Beam2 Mg, Al, Si, P, S, K, Ca
    ppm含量Soil Beam1 Ti, V , Cr, Mn,  Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, As, Se, Pb, Bi, Rb, U, Sr, Zr, Th, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Hg. Optional additions Au, Ba, Pd.
    ppm含量Soil Beam2 P, S, K Ca

    五、Innov-X Explorer 9000SDD便携式矿石分析仪用途及应用领域
    1、快速普查超大范围的矿区,有效地测定地带模式,绘制矿山图、实时勘察。
    2、发现异常状况,做到优先开采富矿区。
    3、现场快速追踪矿化异常,有效地寻找“热点”地带,圈定矿体边界。
    4、对铣头、精矿和矿渣快速、精确的分析,以建立{gx}开采和富集的过程。
    5、判定矿带走向及矿石含量的异常,确保矿山现场日常工作的有效管理,避免错误开采。
    6、对高品位、精选矿石精确的品位评定,提供矿石采集、收购价值依据。
    7、对矿渣、尾矿中残存的矿石元素分析,再次判定其价值。
    8、在矿石开采过程,搪孔过程,研磨、浓缩和熔炼过程中进行品检,确定品位,对滤熔池、存储塘和钢槽溶液进行分析。
    9、Innov—X便携式XRF分析仪在土壤中金属成份检测方面符合EPA Method6200。
    10、在空气过滤介质、灰尘抹布的合铝方面符合NIOSHMethod7702,OSHAMethodsOSSAl,OSSl。
    11、污染水、废水中污染金属成份、污染模式、污染边界的迅速调查与测量。
    12、现场监测RCRA所涉及的金属和优先控制的污染金属。
    13、原土地、污染水、废水、等有害物质的现场处置最小化处理并给污染控制、补救方法的深度分析提供理论依据。
    14、因环境污染而导致的疾病与很多重金属元素有关,如:癌症(Ni,Cr)、  肾病(As,Pb)、肝病(As,Cu)、
    肺尘症(Fe)、xx(Ni)帕金森氏综合症(Mn)。
    六、Innov-X Explorer 9000SDD便携式矿石分析仪用途及技术规格

    项目 Innov-X Explorer 9000SDD
    重量 基本上重量:1.4kg  上电池后:1.6kg
    尺寸 300mm x 90mm x 220mm
    激发源 射线管靶材5种可选择 金(Au)、银(Ag)、钨(W)、钽(Ta),钯(Pb)
    电压电流与功率 大功率微型X射线管40 KV、100MA、4W
    滤波器 六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节
    探测器 高性能高分辨率SDD X射线探测器
    探测器制冷温度 Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35℃
    解析度 <145
    电源 8小时/2块锂电源及交流电源
    操作系统 移动Windows Ce系统
    兼容性 蓝牙,GPS,打印
    软件标准模式 Soil Beam1/ Soil Beam2 /Mining Beam1 / Mining Beam2
    数据分析 多种分析模式,包括基本参数,Compton归一化,经验校准模式,光谱配色
    数据显示 集中于ppm与百分比(%)显示,光谱或峰强度(计数率)或用户定的单位
    数据传输 RS232串行电缆,蓝牙,文件TXT,EXCEL格格输出。
    显示屏 工业级可触摸显示屏与主机一体化密封设计,彩色,高分辨率TFT工业级触摸屏
    真空(选配) 可选配的扩展功能,在真空状态下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍
    GPS/TRIMBLE(选配) 可选配GIS数据采集手簿TRIMBLE,数据与GPS实现同步处理
    地图引用 12. 选配GIS数据采集手簿TRIMBLE可以很容易实现地图引用下载与地质矿化分析

    七、Explorer 9000SDD便携式矿石分析仪在SIO2不同元素的检测下限

    Explorer 9000SDD在SIO2下的60~120秒检测下限
    元素 (lod)
    P<846 Pb<3
    S<320 Bi<46
    Cl<118 Cu<5
    K<120 Zn<5
    Ca<61 As<3
    Ti<9 Se<1
    V<2 Rb<2
    Cr<9 Sr<1
    Mn<9 Zr<3
    Fe<10 Mo<4
    Co<12 Th<6
    Ni<11 U<4
    Cd<23 Ag<3
    Sn<32 Au<2
    Sb<35  
    W<11  
    Hg<6  

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