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热成像显微镜价格_optotherm显微热成像-立特为智能话：15219504346 （温先）

关键词：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的应非常广泛，去封装的芯片，未去封装的芯片，容，FPC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,这也就让你可以在样品的不同阶段都可以使thermal术进，如下图示例，样品路板漏定位到某QFN封装器件漏，将该器件拆下后现漏善，该器件焊引线来，未封定位为某引脚，封后针再做，进一步确认为晶圆某引线位置漏导致，如有需要可接着做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏，低阻抗短路，ES击伤，闩效应点，属层部短路等等，而容的漏和短路点定位，FPC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能够xx定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是无损：为日常的失效，往往样品量稀少，这就要求失效术{zh0}是无损的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，虽然测能测存在缺陷，但是具体缺陷位置，市的无损如XRAY或超声波，却很难进定位，只能通过样品进破坏性切片，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 术，你需要的只是给样品，就可以述两种缺陷进定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相术，将温度分辨率高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以测uA级漏流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点测法（0.1℃分辨率，mA级漏流热点）

5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，了一种速测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示缺陷的位置，在半导体领域

在集成路操期间，内部结加热导致接处的热量集中。器件中的峰值温度处于接处本身，并且热从接部向外传导到封装中。因此，器件操期间的xx结温测量是热表征的组成部分。

芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热工具（如 图像序列）可于评估样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统为一台专为缺陷定位的系统，专为子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN术，使LWIR镜头，仍能将将温度分辨率升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率{zg}达到5um,尤其其系统经过多年的优化，具有非常易和实，以下是OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统过程的说明视频

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)为Optotherm公司中国表（独理），在深圳设立optotherm红外热应实验室，负责该设备的演示和售，如有相关应，可免费评估测试。

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红外热成像仪的优点与缺点

红外热成像仪的优点

1、红外热成像术是一种被动式的非接触的检测与识别，隐蔽性好。

由于红外热成像术是一种目标的被动式的非接触的检测与识别，因而隐蔽性好，不容易被现，从而使红外热成像仪的操者xxx、更有效。

2、红外热成像术不受磁干扰，能远距离xx跟踪热目标，xx导。

由于红外热成像术的是热红外线，因而不受磁干扰。采先进热成像术的红外与跟踪系统，能远距离xx跟踪热目标，并可同时跟踪多个目标，使武器挥{zj0}效能。

红外热成像术可xx导，使导武器具有较高的智能性和射后不管的能力，并可寻最重要的目标予以摧毁，从而大幅度高了弹葯的命中精度，使其战威力成几十倍地高。

3、红外热成像术能真正做到24h全天候监控。

红外辐射是然界中存在最为广泛的辐射，而大气、烟云等可吸收可见光和近红外线，但是3～5μm和8～14μm的红外线却是透明的，这两个波段被称为红外线的“大气窗口”。

因此，这两个窗口，可以在xx无光的夜晚，或是在雨、雪等烟云布的恶劣环境，能够清晰地观察到所需监控的目标。正是由于这个特点，红外热成像术能真正做到24h全天候监控。

4、红外热成像术的测能力强，距离远。

红外热成像术进测的能力强，可在敌方防卫武器射程之外实施观察，其距离远。

目前手持式及装于轻武器的热成像仪可让使者看清800m以的人体 ;且瞄准射击的距离为2～3km; 在舰艇观察面可达10km ; 在1.5km高的直升机可现地面兵的活动 ;在20km高的偵察机可现地面的人群和驶的车辆，并可海温度的变化而测到下潜艇等。

5、红外热成像术可采多种显示方式，把人类的感官由五种增加到六种。

只有当物体的温度高达1000℃以时，才能够可见光被人眼看见。而所有温度在绝零度(-273℃)以的物体，都会不停地热红外线。如一个正常的人所的热红外线能量，大约为100W。

这些都是人眼看不见的，但物体的热辐射能量的大小，直接和物体表面的温度相关。热辐射的这个特点使人们可以红外热成像术物体进无接触温度测量和热状态，并可采